HVAT-5K 系列高压脉冲衰减器 (DC-3.5GHz, 最高5kV)

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ES62X-SSM 系统开关模块

ES62x-SSM (ES62X-LTKSEM、A621-LTKSEM)系统开关模块用于TLP脉冲IV曲线测试与DC特性测试的自动切换。当开关处于常闭状态时，TLP脉冲注入到DUT端，IV曲线测试系统采集DUT的脉冲IV曲线，同时，电压测量分压探头连接至示波器，获取DUT端的电压波形。当开关处于常开状态时，DUT连接至源测量单元（Source Measurement Unit, SMU)，电压分压探头处于开路状态，因此不提供SMU测量时的任何其他回路路径。ES62x-SSM自身的摩擦带电量很低，因此适用于极敏感低压（几伏甚至更低）器件，例如高端CMOS或MMIC工艺技术。

特性

为高性能VF-TLP/TLP/HMM 系统设计

低摩擦带电 (几伏甚至更低 )

DC-18 GHz 带宽

2个同步切换的SPDT通道

6个SMA接口

LED开关切换指示

可用于高达3 kV/120 A 1000 ns TLP系统

高可靠性开关寿命超过 1百万次

分类：脉冲IV曲线测试方案

标签： DC测量, ESD测试, TLP测试

市场价：￥ 1.00

价格：￥ 1.00

商品描述

ES62x-SSM (ES62X-LTKSEM、A621-LTKSEM)系统开关模块用于TLP脉冲IV曲线测试与DC特性测试的自动切换。当开关处于常闭状态时，TLP脉冲注入到DUT端，IV曲线测试系统采集DUT的脉冲IV曲线，同时，电压测量分压探头连接至示波器，获取DUT端的电压波形。当开关处于常开状态时，DUT连接至源测量单元（Source Measurement Unit, SMU)，电压分压探头处于开路状态，因此不提供SMU测量时的任何其他回路路径。ES62x-SSM自身的摩擦带电量很低，因此适用于极敏感低压（几伏甚至更低）器件，例如高端CMOS或MMIC工艺技术。

特性

为高性能VF-TLP/TLP/HMM 系统设计

低摩擦带电 (几伏甚至更低 )

DC-18 GHz 带宽

2个同步切换的SPDT通道

6个SMA接口

LED开关切换指示

可用于高达3 kV/120 A 1000 ns TLP系统

高可靠性开关寿命超过 1百万次

分类：脉冲IV曲线测试方案

标签： DC测量, ESD测试, TLP测试

描述

1. 介绍

ES62x-SSM (ES62X-LTKSEM、A621-LTKSEM) 系统开关模块用于TLP脉冲IV曲线测试与DC特性测试的自动切换。当开关处于常闭状态时，TLP脉冲注入到DUT端，IV曲线测试系统采集DUT的脉冲IV曲线，同时，电压测量分压探头连接至示波器，获取DUT端的电压波形。当开关处于常开状态时，DUT连接至源测量单元（Source Measurement Unit, SMU)，电压分压探头处于开路状态，因此不提供SMU测量时的任何其他回路路径。ES62x-SSM自身的摩擦带电量很低，因此适用于极敏感低压（几伏甚至更低）器件，例如高端CMOS或MMIC工艺技术。

2. 特性

为高性能VF-TLP/TLP/HMM 系统设计
低摩擦带电 (几伏甚至更低 )
DC-18 GHz 带宽
2个同步切换的SPDT通道
6个SMA接口
LED开关切换指示
可用于高达3 kV/120 A 1000 ns TLP系统
高可靠性开关寿命超过 1百万次

3. 应用

通用型测试系统开关模块

4. 规格

参数	值	单位	备注
工作带宽	DC-18	GHz	见第三页图S参数
特性阻抗	50	Ω
插入损耗	< 0.8	dB	作为电压测量和DUT脉冲注入路径时
击穿电压	> 3	kV	为3 kV或120 A 1000 ns TLP系统设计
摩擦起电	< 5	V	测试值 < 2 V, <1 ns （ 25 °C ，湿度30 % 条件下）
切换时间	< 20	ms	可靠切换次数超过一百万次
尺寸	120 X 50 X 40	mm	包括SMA接口
重量	0.215	kg