EMC电磁兼容和可靠性分析仪器、仪表、设备综合服务供应商
芯片级、板级、系统级ESD静电抗扰和EMI电磁干扰测试方案定制商
小型台式X射线衍射仪:用于粉末材料鉴别,物相分析,材料物相的定性定量分析,晶体结构分析。
无线功能:使用具有无线功能的任何设备(如笔记本电脑、平板电脑或电话)获取实时结果并操作仪器。
轻松导出数据:轻松导出定量矿物学/相ID结果以便进行显示或进一步的数据分析,使用网络文件夹访问原始数据文件以便分析衍射图(适用于喜欢使用第三方软件进行人工分析的用户)。
Olympus的BTX III的分析性能仍不逊色,可用于台式实验室的分析。
样品制备简便
XRD分辨率 | 0.25o 2Ø FWHM |
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XRD范围 | 5 - 55o 2Ø |
探测器类型 | 1024 x 256像素;2维Peltier致冷CCD |
XRF能量分辨率 | 200 eV,5.9 keV |
XRF能量范围 | 3~25 keV |
样本颗粒大小 | <150 μm碾碎矿石(100目筛,150 μm) |
样品量 | 约15 mg |
X射线管靶材 | 钴或铜(钴为标准配置) |
X射线管电压 | 30 kV |
X射线管功率 | 10 W |
数据存储 | 40 Gb,坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
无线连接 | 802.11 b/g,从网络浏览器进行遥控 |
工作温度 | 10oC~35oC |
重量 | 12.5 kg |
尺寸 | 30 x 17 x 47厘米(11.75 x 6.9 x 19.5英寸) |
电源要求 | 简单AC电源(无冷却系统) |
BTX可以独立于嵌入仪器本身的软件而操作。用户可以通过无线连接(802.11b/g),访问操作系统。这种独特的操作方式在控制仪器和随后的数据处理方面具有极大的灵活性。
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